표제지
목차
논문개요 10
제1장 서론 12
제2장 이론적 배경 14
제1절 결합 원자가 및 결합 원자가 상수 14
제2절 결합의 공유결합성 18
제3절 마이크로파 유전특성 21
제1항 유전상수 (Dielectric constant, K) 21
제2항 품질계수 (Quality factor, Qf) 24
제3항 공진주파수의 온도계수 (TCF) 27
제4항 마이크로파 유전체 재료의 응용 30
제4절 LTCC용 유전체 세라믹스 31
제3장 실험방법 32
제1절 분말 합성 및 시편 제조 32
1) xMgO-(1-x)Mg₂SiO₄(0.25≤x≤0.75) 32
2) 0.625MgO–0.375Mg₂SiO₄–xLiF (0.5≤x≤2.5wt.%) 33
제2절 측정 및 관찰 36
제1항 밀도 측정 36
제2항 X-선 회절 분석 및 Rietveld 정련 분석 36
제3항 미세구조 관찰 38
제4항 마이크로파 유전특성 측정 38
제4장 결과 및 고찰 41
제1절 MgO-Mg₂SiO₄계 세라믹스의 MgO 함량 변화에 따른 마이크로파 유전특성 41
제1항 MgO 함량 변화에 따른 외인성 요인과 마이크로파 유전특성 41
제2항 MgO 함량 변화에 따른 결정구조 특성과 마이크로파 유전특성 49
제2절 소결 조제 LiF 첨가에 따른 0.625MgO-0.375Mg₂SiO₄ 세라믹스의 마이크로파 유전특성 54
제5장 결론 61
1. MgO - Mg₂SiO₄계 세라믹스의 마이크로파 유전특성과 외인성 및 내인성 요인의 상관관계 61
가) MgO - Mg₂SiO₄계 세라믹스의 MgO 함량 제어에 따른 유전특성 61
나) MgO - Mg₂SiO₄계 세라믹스의 유전특성과 결정구조 특성의 상관 관계 62
2. 소결 조제 LiF 첨가에 따른 0.625MgO – 0.375Mg₂SiO₄계 세라믹스의 마이크로파 유전특성 62
가) LiF 첨가량 제어에 따른 유전특성 62
나) 소결 온도에 따른 유전특성 63
참고문헌 64
Abstract 70
〈표 2-1〉 Recommended bond valence parameters. 17
〈표 2-2〉 Parameter of bond valence curves for cation-oxygen. 19
〈표 2-3〉 Parameters relating to the equations fc=asM=a(R/R₁)-MN.[이미지참조] 20
〈표 3-1〉 Initial model for forsterite structure taken from the neutron powder diffraction results given by Yamazaki and Toraya. 37
〈표 4-1〉 Phase fraction of xMgO - (1-x)Mg₂SiO₄ (0.25≤x≤0.75) ceramics sintered at 1525 ℃ for 3h. 44
〈표 4-2〉 Theoretical density and relative density of xMgO - (1-x)Mg₂SiO₄ (0.25≤x≤0.75) ceramics sintered at... 45
〈표 4-3〉 Bond length, degree of covalency and bond strength of xMgO - (1-x)Mg₂SiO₄ (0.25≤x≤0.75) ceramics sintered at... 52
〈표 4-4〉 Theoretical density, relative density of 0.625MgO - 0.375Mg₂SiO₄ - 1.5wt%LiF ceramics sintered at... 58
〈표 4-5〉 Dielectric constant (K), quality factor (Qf) and TCF of 0.625MgO - 0.375 Mg₂SiO₄ - 1.5wt%LiF ceramics sintered at... 60
〈그림 3-1〉 Schematic diagram of conventional solid state reaction method. 34
〈그림 3-2〉 Schematic diagram of conventional solid state reaction method. 35
〈그림 3-3〉 Schematic diagram of post-resonant method. 39
〈그림 3-4〉 Variation of relative transmitted power with frequency. 40
〈그림 4-1〉 XRD patterns of xMgO - (1-x)Mg₂SiO₄ (0.25≤x≤0.75) ceramics sintered at 1525 ℃ for 3h. 43
〈그림 4-2〉 SEM micrographs of xMgO - (1-x)Mg₂SiO₄ (0.25≤x≤0.75) ceramics sintered at 1525 ℃ for 3h.... 46
〈그림 4-3〉 Quality factor (Qf) of xMgO - (1-x)Mg₂SiO₄ (0.25≤x≤0.75) ceramics sintered at 1525 ℃ for 3h. 47
〈그림 4-4〉 Measured dielectric constant (K) and effective dielectric constant of xMgO - (1-x)Mg₂SiO₄ (0.25≤x≤0.75)... 48
〈그림 4-5〉 Rietveld refinement results of xMgO - (1-x)Mg₂SiO₄ (0.25≤x≤0.75) ceramics sintered at 1525 ℃ for 3h.... 51
〈그림 4-6〉 Dependence of degree of covalency on quality factor (Qf) of xMgO - (1-x)Mg₂SiO₄ (0.25≤x≤0.75) ceramics sintered... 53
〈그림 4-7〉 XRD patterns of 0.625MgO - 0.375Mg₂SiO₄ - xwt%LiF (0.5≤x≤2.5) ceramics sintered at 900-1100 ℃ for 3h.... 55
〈그림 4-8〉 Quality factor (Qf) of .625MgO - 0.375Mg₂SiO₄ - xwt%LiF (0.5≤x≤2.5) ceramics sintered at 900-1100 ℃ for 3h.... 56
〈그림 4-9〉 SEM micrographs of 0.625MgO - 0.375Mg₂SiO₄ - 1.5wt% LiF ceramics sintered at 900-1100 ℃ for 3h.... 59