최근 산업에 적용되는 고분자 시스템의 크기가 나노 미터 길이 단위로 축소됨에 따라 고분자 박막에서 계면 영역의 비율이 증가하고 있다. 분절 동역학에 따라 유리 전이 온도 (Tg) 및 역학을 포함한 고분자 박막의 특성이 결정되기 때문에 계면에서의 기판-고분자 상호작용이 분절 동역학에 어떻게 영향을 미치는지 이해하는 것은 중요하다. 우리는 계면 근처에서의 분절 동역학의 직접적 관찰을 위해 "grafting to" 방법으로 형광 프로브를 가진 고분자 브러시를 합성하였다. 형광 분자가 부착된 고분자는 스타이렌 (styrene) 또는 메틸메타아크릴레이트 (methyl methacrylate, MMA)의 원자 이동 라디칼 중합 (ATRP) 및 다양한 중합 후 변형을 통해 성공적으로 합성되었다. Imaging rotational fluorescence correlation microscope (irFCM)을 통해 계면 근처에 국한된 형광 분자의 회전 상관 정보를 직접 얻음으로써 계면 근처의 고분자-기판 상호 작용이 분석되었다. 따라서 본 연구는 사슬 끝이 공유 결합을 통해 표면에 고정되는 고분자 브러시 시스템을 통해 고분자 필름에서 전체 평균 속성이 아닌 특정 제한된 공간에서의 고분자 분절 역학에 대한 더 깊은 이해를 제공한다.