최근 고해상도 디스플레이 산업에서 LCD (Liquid Crystal Display)에서 OLDE (Organic Light Emitting Diode)로 많이 대체되고 있다. OLDE 생산단계에서 OLED Panel 검사 시에 Probe를 이용해 신호를 흘려 불량품을 검사를 실시하게 된다. 이때 불량의 발생 검출 원인은 크게 2가지로 나뉘는데, 하나는 OLED 패널의 자체 불량과 다른 하나는 둘 사이의 접촉과정에서 발생하는 접촉 불량이다. 이를 생산 공정 단계에서 당장 알 수 없기에 불량률을 늘리게 하며, 그에 따른 불량에 대한 재검사에 대한 소요가 늘어나게 된다. 이를 위해 점등 검사 시에 사용되는 Contact Probe Unit을 일체형으로 설계하였다. 또한 Pin의 직접 접촉을 통해서 검사가 이루어지는 만큼 마모나 파손이 일어나기에 각 개별 Pin에 대한 형상과 배열에 대해서 유한요소 해석을 통해 파손에 대해 안정적인 구조를 파악하였다. 구성된 시스템을 4축 스테이지로 측정용 시스템을 구축하였고, Contact 불량에 대해 계측할 수 있는 알고리즘과 S/W를 구현하기 위해 Multi-Switching 시스템을 개발하였다. 사용자 편의를 위해 제어 GUI를 개발하여 테스트해본 결과 Contact 여부가 구별되는 유의미한 결과를 얻을 수 있었다. 이를 통해 불량률을 줄이며 생산량을 높일 수 있을 것으로 생각된다.