표제지
목차
Ⅰ. 서론 5
1.1. 기술개발의 개요 6
1.1.1. 개요 6
1.1.2. 개발의 배경 및 필요성 12
1.2. 국내외 관련기술의 개발현황 및 전망 14
1.2.1. 관련기술의 개발현황 14
1.2.2 관련제품의 동향 14
1.3. 기술의 시장성 15
Ⅱ. 기술개발의 내용 18
2.1. 개발 장치의 개요 18
2.2. I/Q Modulator & Demodulator 19
2.2.1. Zero-IF 방식의 개요 19
2.2.2. 구조 및 규격 20
2.2.3. 관련 회로도 26
2.3. RF Signal Measurement 30
2.3.1. Double Balanced Mixer 30
2.3.2. VCO(Voltage Controled Oscillator) 31
2.3.3. Logarithmic Amplifier(대수 증폭기) 33
2.3.4. 관련 회로도 36
2.4. Data Control부 41
2.4.1. ISO/IEC 18000-6 주요 기술 사양 41
2.4.2. Coding부 42
2.4.3. 변조부 43
2.4.4. 통신 방식 46
Ⅲ. 소프트웨어 구현 48
3.1. 리더부 48
3.1.1. MCU 구현 49
3.2. 프로토콜 분석 및 TAG 테스트 52
3.2.1. TAG 테스트 부분 53
3.3. RF 분석부 55
3.3.1. 동작 설명 55
3.4. 프로그램 사용 설명 56
3.4.1. 프로토콜 분석창 56
3.4.2. RF Spectrum 분석창 57
Ⅳ. 연구결과 60
4.1. I/Q 변복조부 61
4.2. RF 신호 측정부 62
4.3. Data Control부 62
4.3.1. 리더기 MCU 펌웨어 개발 62
4.3.2. 검사용 UI 프로그램 개발-프로토콜 분석부 63
4.3.3. 검사용 UI 프로그램 개발 - RF분석부 64
4.4. RFID Reader Test 65
4.4.1. Test 구성도 65
4.4.2. Test 방법 65
4.4.3. Test 순서 67
4.4.4. Test 환경 67
4.5. RFID Tag Test 68
4.5.1. Test 구성 68
4.5.2. Test 순서 70
4.5.3. Test 환경 70
Ⅴ. 결론 71
참고 문헌 73
Abstract 75
[표 1] 개발 장치의 특징 및 기능 12
[표 2] RFID 시장의 규모 16
[표 3] RFID 시장의 규모 17
[표 4] 사용 주파수 대역 21
[표 5] 최대 출력 22
[표 6] 대역 외 불요발사 22
[표 7] 스펙트럼 마스크 22
[표 8] 포락선 파형의 인자값 24
[표 9] 채널 선택도 25
[표 10] 주요 기술 사양표 41
[표 11] 응답 시간 및 편차 43
[그림 1] 장치의 구성도 7
[그림 2] 신호 처리의 흐름 8
[그림 3] 리더기의 구조도 9
[그림 4] 리더기 테스트 방법도 9
[그림 5] 데이터 처리부 구성도 10
[그림 6] 전체 구성도 18
[그림 7] Zero-IF 방식의 구조 20
[그림 8] RFID 주파수 대역 23
[그림 9] 포락선 파형 24
[그림 10] PLL 회로도 26
[그림 11] I/Q 변복조 회로도 27
[그림 12] RF Splitter & PA 28
[그림 13] Power Source 29
[그림 14] DBM 등가회로 31
[그림 15] ROS-1600W의 특성표 32
[그림 16] 대수증폭 Scaling 해석 34
[그림 17] DBM 36
[그림 18] IF Amp & BPF 회로도 37
[그림 19] VCO & 톱니파 발생장치 회로도 38
[그림 20] A/D 변환기 및 옵션 컨트롤러 회로도 39
[그림 21] Power Source 회로도 40
[그림 22] 코딩 챠트 42
[그림 23] 동작 응답 시간 43
[그림 24] ASK 변조 파형 44
[그림 25] 변조파형 및 검출 파형 45
[그림 26] ASK 변조 파형 45
[그림 27] RFID의 프로토콜 46
[그림 28] RFID Reader S/W 구조도 49
[그림 29] C8051 블록도 50
[그림 30] 상태 다이어그램 51
[그림 31] 프로토콜 분석의 동작도 52
[그림 32] 프로토콜 분석 화면 53
[그림 33] TAG 테스트 화면 54
[그림 34] RF 분석 알고리즘 55
[그림 35] 프로그램 실행 화면 56
[그림 36] RF Spectrum 분석 57
[그림 37] 스펙트럼 범위창 58
[그림 38] 데이터 테이블 창 58
[그림 39] 제작된 장비 사진 60
[그림 40] RFID 시스템 테스트 구성도 65
[그림 41] 리더기 테스트용 장치 연결도 66
[그림 42] 테스트 순서도 알고리즘 67
[그림 43] 태그 테스트를 위한 장치 구성도 68
[그림 44] 태그 테스트용 장치 연결도 69
[그림 45] 태그 테스트 알고리즘 70