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논문명/저자명
650 Mb/s-8 Gb/s의 데이터속도를 자동으로 추적하는 클락 및 데이터 복원회로 및 All-Digital PLL의 사용에 적합한 1.25 ps의 해상도를 갖는 Sub-Exponent방식의 시간-디지털 변환회로 = (A)650Mb/s-to-8 Gb/s referenceless CDR with automatic acquisition of data rate and a 1.25 ps resolution sub-exponent TDC for all-digital PLL / Seon-Kyoo Lee 인기도
발행사항
포항 : 포항공과대학교 대학원, 2012.8
청구기호
TD 621.397 -12-6
형태사항
vii, 79 p. ; 26 cm
자료실
전자자료
제어번호
KDMT1201271023
주기사항
학위논문(박사) -- 포항공과대학교 대학원, Division of Electrical and Computer Engineering(Semiconductor Program), 2012.8. 지도교수: Jae-Yoon Shim
원문

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Title Page

ABSTRACT

Contents

I. Introduction 11

1.1. Clock and data recovery 11

1.2. Time-to-digital converter for all-digital PLL 16

1.3. Organization of the thesis 19

II. A 650Mb/s-to-8Gb/s Referenceless CDR with Automatic Acquisition of Data Rate 20

2.1. Introduction 20

2.2. Concept of proposed automatic acquisition of data rate 24

2.3. Circuit description 28

A. VCO and VCDL 29

B. Coarse frequency tracking loop 31

C. Fine frequency and phase tracking loop 33

2.4. Measurement results 37

2.5. Conclusion 43

III. 1.25 ps Resolution Sub-Exponent TDC for All-Digital PLL 44

3.1. Introduction 44

3.2. Circuit description 49

A. Time-to-Digital Converter 49

B. All-Digital Phase-Locked Loop 64

3.3. Measurement results 71

3.4. Conclusion 81

IV. Conclusion 82

요약문 84

REFERENCES 86

Curriculum Vitae 91

Academic activities 93

Table 2.1. Performance summary 42

Table 2.2. Performance comparison 42

Table 3.1. Performance summary 79

Table 3.2. TDC performance comparison 80

Figure 1.1. Block diagram of typical (a) serial link and (b) parallel link 12

Figure 1.2. Conceptual block diagram of receiver in serial link system 13

Figure 1.3. Block diagram of typical (a) analog PLL and (b) digital PLL 17

Figure 2.1. Typical serial link system 21

Figure 2.2. Concept of proposed frequency acquisition scheme 24

Figure 2.3. Concept of coarse frequency acquisition 25

Figure 2.4. Concept of fine frequency acquisition 26

Figure 2.5. Block diagram of proposed CDR 29

Figure 2.6. (a)Block diagram and (b)layout placement of VCO and VCDL and circuit diagram of delay cell 30

Figure 2.7. (a)Block diagram and (b)operation of coarse delay tracking 32

Figure 2.8. (a)Fine delay tracking and (b)operation of fine locked state 34

Figure 2.9. Cases of loss of lock 35

Figure 2.10. Simulated automatic frequency acquisition in case of data rate changes 36

Figure 2.11. Photomicrograph and layout of the test chip 37

Figure 2.12. Measured eye diagrams and clock @ (a) 650Mb/s, (b) 3Gb/s, (c) 6Gb/s and (d) 8Gb/s 39

Figure 2.13. Measured clock jitter @ (a) 650Mb/s, (b) 3Gb/s, (c) 6Gb/s and (d) 8Gb/s 40

Figure 2.14. Measured jitter tolerance 41

Figure 3.1. Previous approaches for fine resolution TDC; (a) verinier TDC, (b) 2-step TDC, and (c) noise shaping TDC 46

Figure 3.2. (a) Block diagram and (b) transfer curve of the proposed TDC 50

Figure 3.3. Circuit diagram of the proposed sub-exponent TDC 52

Figure 3.4. Conceptual (a)circuit diagram of the proposed 2x TA and operation of (b)small input case and (c)large input case 54

Figure 3.5. (a)Circuit diagram and (b) operation of input range improved 2x TA 56

Figure 3.6. Full circuit schematic of 2x TA with calibration 58

Figure 3.7. Simulation results of 2x TA; (a) transfer curve and (b) gain 59

Figure 3.8. Cascaded TAs generating 1-bit at N-th stage (a) without gain error and (b) with gain error of ε 60

Figure 3.9. (a) Acceptable TA gain error as a function of the number of stages for given bit error requirements and (b) transfer curves of 7b sub-exponent TDC with various cases of TA gain error 63

Figure 3.10. Block diagram of designed ADPLL 64

Figure 3.11. (a) Behavioral model of ADPLL and (b) simulation results with various cases of TDC and DCO resolutions 65

Figure 3.12. Circuit diagram of (a) DCO and (b) DCR 68

Figure 3.13. Block diagrams of (a) the DLF and (b) DSM 69

Figure 3.14. Photomicrograph of the test chip 72

Figure 3.15. Measured and target transfer curves of (a) full region and (b) sub-exponent region 74

Figure 3.16. Measured linearity performance of sub-exponent TDC with normalized (a) differential error (NDE) and (b) absolute error (NAE) 75

Figure 3.17. Measured linearity performance of integer TDC; (a) DNL and (b) INL 76

Figure 3.18. Jitter histogram of PLL 78

초록보기 더보기

 본 논문은 650Mb/s 에서 8Gb/s 의 NRZ 데이터를 추가적인 외부클락 없이도 입력데이터의 주파수를 자동 추적하여 수신할 수 있는 클락 및 데이터를 복원하는 Clock and Data Recovery(CDR) 회로의 설계에 관한 연구와 시간차이의 정보을 디지털정보로 변환하여주는 Time-to-Digital Converter(TDC) 및 이를 이용한 All-Digital Phase-Locked Loop(ADPLL)의 설계에 관한 내용이다.

첫째로, CDR 회로는 고속직렬통신용 수신부의 전체 성능을 좌우하는 가장 중요한 핵심 블록이다. 특히 데이터속도를 자동으로 추적하는 referenceless CDR 회로는 다양한 채널환경을 지원하고 가용성을 극대화 하는데 있어 큰 장점을 가지지만 그 구조가 매우 복잡하고 설계가 까다로운 단점을 가지고 있다. 본 연구에서는 간단한 위상/주파수 검출기 (PFD)를 이용한 delay-locked loop(DLL)방식을 갖는 새로운 구조의 주파수 추적방식을 고안하여 효율적인 회로구성 및 동작을 달성 함으로서 기존 회로의 복잡성을 획기적으로 개선하였다. 그 결과, 65nm CMOS 공정으로 설계 및 제작된 회로는 현재까지 보고된 CDR 중 회로의 면적, 동작범위, 전력소모 측면에서 가장 뛰어난 성능을 보이고 있다.

둘째로, TDC 는 두 입력신호의 위상차이를 검출하여 디지털 값으로 변환하여주는 ADPLL 의 핵심블록이다. 일반적으로 TDC 설계시 구현 가능한 최고 해상도는 가장 작은 지연시간인 1 개의 인버터 지연시간으로 결정되어 수십 ps 의 한계를 가지고 있었다. 그래서 그 이하의 미세한 해상도을 구현하기 위한 여러가지 시도들이 있었지만 대부분 복잡한 회로들과 이로 인한 큰 전력소모가 항상 이슈가 되어왔다. 본 연구에서는 시간입력을 증폭하는 Time Amplifier(TA) 회로를 제안하였고 이를 이용하여 복잡한 회로구성 없이 획기적인 해상도 향상을 달성하였다. 또한 PLL 의 성능은 저하시키지 않으면서 전력소모를 크게 줄여주는 Sub-exponent 방식의 변환기법을 포함하고 있으며, 그 결과 설계된 TDC 는 0.18㎛ CMOS 의 공정으로 제작되어 현재까지 보고된 TDC 중 가장 작은 전력소모를 가지며 1.25ps 의 초 고해상도와 동시에 2.5ns 의 넓은 동작범위를 달성하였다. 이를 이용해 설계된 ADPLL 은 960㎒ 의 출력주파수에서 5ps(rms)의 지터 성능을 나타내었다.

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