표제지
국문 초록
목차
1. 서론 10
1.1. 연구배경 및 목적 10
1.2. 연구의 방법 및 내용 11
2. ISO26262 선행연구 12
2.1. ISO26262 개요 12
2.2. ISO26262의 안전 수명 주기 17
2.3. ASIL 등급 19
3. ISO26262 Part4 시스템 설계 23
4. ISO26262 Part5 하드웨어 설계 27
4.1. 하드웨어 구성 27
4.2. 기능안전성 요구 부품 분석 32
4.3. Isolation을 이용한 하드웨어 설계 38
4.4. 모니터링을 통한 하드웨어 설계 40
4.5. CAN통신 하드웨어 설계 42
4.6. PMIC 전원 설계 44
5. 제품의 안전 분석 및 시험 46
5.1. FMEA와 FTA 분석방법 46
5.2. 하드웨어 통합시험 50
6. 결론 55
참고문헌 57
ABSTRACT 59
표 2-1. ISO26262 기능안전 구성 13
표 2-2. ASIL 결정기준표 20
표 2-3. Single-point Fault 21
표 2-4. Latent-fault metric 21
표 3-1. Element ID 안전 목표 25
표 3-2. 하드웨어-소프트웨어 인터페이스 26
표 4-1. MCU 기능안전 요구사항 41
표 5-1. 부품/구성 요소의 고장률 47
표 5-2. 안전 메커니즘 및 진단 범위 48
표 5-3. Fault Metric Target and Result 48
표 5-4. 과전압 시험 규격 52
표 5-5. 역전압 시험 규격 53
표 5-6. 진동시험 조건 54
그림2-1. 기능안전성 표준 13
그림2-2. ISO26262 표준 구성 16
그림2-3. ISO26262 기능안전성 주기 17
그림2-4. ISO26262 vs IEC 61508 기능안전성 레벨 19
그림3-1. 시스템 아키텍처 24
그림4-1. 하드웨어 레벨에서 제품개발 모델 27
그림4-2. 하드웨어 아키텍처 30
그림4-3. 기능안전 적용전 하드웨어 아키텍처 31
그림4-4. 모니터링 MCU 비교 33
그림4-5. 기능안전 MCU구조 33
그림4-6. PMIC 기능안전 SW 스텍 34
그림4-7. 기능안전 PMIC 35
그림4-8. 이미지센서의 임베디드 데이터 구조 36
그림4-9. 이미지센서 기능안전 구조 37
그림4-10. 아이솔레이션 적용 PCB 38
그림4-11. Isolator IC 구조 39
그림4-12. UART ISOLATION 회로 설계 39
그림4-13. 모니터링 MCU 회로 설계 40
그림4-14. 멀티CAN통신 구조 42
그림4-15. 시스템에서의 CAN구성 43
그림4-16. CAN통신 회로 설계 43
그림4-17. PMIC와 MCU 인터페이스 44
그림4-18. PMIC 회로 구성 45
그림5-1. FTA 분석 49
그림5-2. 테스트 케이스 51
그림5-3. 과전압 시험 52
그림5-4. 역전압 시험 53
그림5-5. 진동시험 54